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XRD应用介绍-数据质量

发表时间:2023-05-19      
浏览次数:2198      
作者:伦琴实验室

前言

XRD作为材料结构表征的重要手段之一,广泛应用于材料、物理、化学、药物等领域。为了能够得到准确的分析结果,或者探索更多的结构信息,XRD数据的质量是基础,也是解析XRD图谱的关键一环。那么,什么是高质量的XRD数据呢?

X射线衍射图谱组成


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图1 X射线衍射图谱组成

XRD图谱组成部分和与之对应的物理参数:

1. 峰位:   1.准确。 2.空间群。 3.晶胞参数。

2. 峰强:1.强度高, 相对强度准确 。2.晶体结构 。 3.定量分析。

3. 峰形:1.FWHM小,峰形对称(图2)。2.仪器展宽。  3.样品微观结构。

4. 背底:1.背底低,低角度平缓,峰背比高,信噪比高。  2.弱峰检出限(图3)。 3.非晶漫散峰,“结晶度”。


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图2 不同分辨率的XRD图谱  


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图3 峰背比和信噪比对弱峰


XRD数据质量与测试效率

高质量数据:峰位准确、强度高()且准确(相对)、峰形好(分辨率高,对称性性好)、峰背比和信噪比高。

高质量的数据获得往往与测试效率成反比,非常耗时。精细的仪器调试、合理的硬件选择以及较长时间的测试。

不是每种应用都需要非常高的数据质量。应该根据不同的应用需要,选择合适的硬件及测量条件,得到相应的数据质量,提高测试效率。 


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