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X射线固态表征

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APPLICATION

行业应用

  • XRD应用介绍-小角X射线散射
    XRD应用介绍-小角X射线散射

    X射线小角散射(Small Angle X-ray scattering,SAXS)是通过收集X射线穿过样品之后产生的散射信号,来研究样品1~100 nm范围之内结构信息的技术。SAXS对样品的形式没有特定要求,块状,粉末和液体均可,但要求感兴趣的结构与周围环境有电子密度起伏,即衬度。

  • XRD应用介绍-微区XRD(μ-XRD)
    XRD应用介绍-微区XRD(μ-XRD)

    对于块状样品的XRD测试,往往是把块状样品研磨成各向同性的粉末状态,再利用发散的线状X射线(布拉格-布伦塔诺几何)对样品进行测试分析。但是有些块状样品研磨成粉末是不现实的,比如稀有的块体样品,或是镶嵌在基体上的某个微小区域,又或者希望研究某个块状样品上物相的空间分部等等。

  • XRD应用介绍-掠入射X射线衍射
    XRD应用介绍-掠入射X射线衍射

    薄膜材料就是厚度介于一个纳米到几个微米之间的单层或者多层材料。由于厚度比较薄,薄膜材通常依附于一定的衬底材料之上。常规XRD测试,X射线的穿透深度一般在几个微米到几十个微米,这远远大于薄膜的厚度,导致薄膜的信号会受到衬底的影响(图1)。

  • XRD应用介绍-聚合物X射线表征
    XRD应用介绍-聚合物X射线表征

    聚合物是由重复基团长链组成的大分子。聚合物的组成、结构和形式决定了它的性能,因此这些参数的正确表征至关重要。 聚合物通常被合成为纤维、片材和其它固体形态。 这些类型的聚合物特性受其结晶度、晶体结构和取向等结构参数影响很大,可以使用 X 射线衍射 (XRD) 研究这些结构参数。本文介绍了XRD在聚合物结构表征中的应用。

  • XRD应用介绍-介孔分子筛SBA-15结构分析
    XRD应用介绍-介孔分子筛SBA-15结构分析

    介孔分子筛SBA-15具有大晶胞的二维六方孔状结构,具有更大的孔径、更厚的孔壁和更高的孔容,而且具有更好的水热稳定性,有利于它在温度较高、体系中有水的反应中应用,因此在催化、分离、生物及纳米材料等领域有广泛的应用前景。 SBA-15结构特稳定性和其孔径大小与性能有较大关联,而XRD是表征其结构的有效方法之一。由于SBA-15的晶胞较大,其衍射峰往往出现在非常低的角度,这导致很难从直射光和空气散射中区分其衍射信号。目前,随着衍射仪的发展,动态光路的设计很好的解决了这类问题。

  • XRD应用介绍-电池材料结构精修以及电化学原位XRD应用
    XRD应用介绍-电池材料结构精修以及电化学原位XRD应用

    电池材料中所含物质的晶体结构可以通过分析x射线衍射图谱来获得。而在电池材料结构精修以及电化学原位XRD应 用中,通过电化学原位XRD实时检测充放电过程中的x射线衍射图谱可以进一步探究材料的结构演变规律,进而加深对电池结构的认识。

  • XRD应用介绍-单晶外延薄膜高分辨XRD表征
    XRD应用介绍-单晶外延薄膜高分辨XRD表征

    高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD) 是一种强大的无损检测方法,其研究对象主要是单晶材料、单晶外延薄膜材料以及各种 低维半导体异质结构。广泛用于单晶质量、外延薄膜的厚度、组分、晶胞参数、缺陷、失配、弛豫、应力等结构参数的测试。现 代HRXRD与常规XRD的区别主要体现在:(1)高度平行且高度单色的高质量X射线;(2)不仅要测试倒易格点的位置(角度), 还要测试倒易格点的形状(缺陷);(3)更高的理论要求-动力学理论。

  • XRD应用介绍-X射线全散射对分布函数方法分析结晶/ 非晶无机材料的局域结构
    XRD应用介绍-X射线全散射对分布函数方法分析结晶/ 非晶无机材料的局域结构

    局域结构是指构成材料的原子或离子在几个晶胞尺度范围内(< 1 nm)所具备的排布规律。与晶体的长程有序结 构不同,不论某种材料整体来看是晶体或非晶,在一定的尺度范围内,组成原子的排布都可能具备一定的特征,这种仅 存在于短程范围内的结构同样会对材料的物理化学性能产生一定影响。

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